Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Electronic contribution to sec...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
Médium:
Journal article
Vydáno:
1997
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
Autor: Perovic, D, a další
Vydáno: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
Autor: Perovic, D, a další
Vydáno: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
Autor: Sahoo Sudeep Kumar, a další
Vydáno: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
Autor: Konkol, A, a další
Vydáno: (1995)
The scanning electron microscope /
Autor: 454756 Oatley, Charles William
Vydáno: (1972)