Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Electronic contribution to sec...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
1997
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
מאת: Perovic, D, et al.
יצא לאור: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
מאת: Perovic, D, et al.
יצא לאור: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
מאת: Sahoo Sudeep Kumar, et al.
יצא לאור: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
מאת: Konkol, A, et al.
יצא לאור: (1995)
The scanning electron microscope /
מאת: 454756 Oatley, Charles William
יצא לאור: (1972)