Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Electronic contribution to sec...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
Ձևաչափ:
Journal article
Հրապարակվել է:
1997
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
: Perovic, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
: Perovic, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
: Sahoo Sudeep Kumar, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
: Konkol, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1995)
The scanning electron microscope /
: 454756 Oatley, Charles William
Հրապարակվել է: (1972)