Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Electronic contribution to sec...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
Format:
Journal article
Wydane:
1997
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
od: Perovic, D, i wsp.
Wydane: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
od: Perovic, D, i wsp.
Wydane: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
od: Sahoo Sudeep Kumar, i wsp.
Wydane: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
od: Konkol, A, i wsp.
Wydane: (1995)
The scanning electron microscope /
od: 454756 Oatley, Charles William
Wydane: (1972)