Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Electronic contribution to sec...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Electronic contribution to secondary electron compositional contrast in the scanning electron microscope
Библиографические подробности
Главные авторы:
Castell, M
,
Perovic, D
,
Lafontaine, H
Формат:
Journal article
Опубликовано:
1997
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Quantitative imaging of semiconductor doping distributions using a scanning electron microscope
по: Perovic, D, и др.
Опубликовано: (1998)
Doping layer imaging in the field-emission scanning electron microscope
по: Perovic, D, и др.
Опубликовано: (1994)
Coupling Clustering and Channeling Contrast in the Scanning Electron Microscope
по: Sahoo Sudeep Kumar, и др.
Опубликовано: (2024-01-01)
BACKSCATTERED ELECTRON CONTRAST ON CROSS-SECTIONS OF INTERFACES AND MULTILAYERS IN THE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE
по: Konkol, A, и др.
Опубликовано: (1995)
The scanning electron microscope /
по: 454756 Oatley, Charles William
Опубликовано: (1972)