Imbrici, P., Grottesi, A., D'Adamo, M., Mannucci, R., Tucker, S., & Pessia, M. (2009). Contribution of the central hydrophobic residue in the PXP motif of voltage-dependent K+ channels to S6 flexibility and gating properties.
Citação norma ChicagoImbrici, P., A. Grottesi, M. D'Adamo, R. Mannucci, S. Tucker, and M. Pessia. Contribution of the Central Hydrophobic Residue in the PXP Motif of Voltage-dependent K+ Channels to S6 Flexibility and Gating Properties. 2009.
Citação norma MLAImbrici, P., et al. Contribution of the Central Hydrophobic Residue in the PXP Motif of Voltage-dependent K+ Channels to S6 Flexibility and Gating Properties. 2009.
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