Electron Backscatter Diffraction: An Important Tool for Analyses of Structure-Property Relationships in Thin-Film Solar Cells

Electron Backscatter Diffraction: An Important Tool for Analyses of Structure-Property Relationships in Thin-Film Solar Cells

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

The present work gives an overview of the application of electron backscatter diffraction (EBSD) in the field of thin-film solar cells, which consist of stacks of polycrystalline layers on various rigid or flexible substrates. EBSD provides access to grain-size and local-orientation distributions, f...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Abou-Ras, D, Kavalakkatt, J, Nichterwitz, M, Schaefer, N, Harndt, S, Wilkinson, A, Tsyrulin, K, Schulz, H, Bauer, F
Ձևաչափ: Journal article
Հրապարակվել է: 2013
Ցույց տալ բոլոր տարբերակները (2)

Նմանատիպ նյութեր