تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
STRUCTURE OF DEFORMATION-INDUC...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
STRUCTURE OF DEFORMATION-INDUCED BULK AND GRAIN-BOUNDARY DISLOCATIONS IN A SILICON-SIGMA=9(122) BICRYSTAL - A HREM STUDY
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Thibaultdesseaux, J
,
Putaux, J
التنسيق:
Conference item
منشور في:
1989
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
الوصف
الملخص:
مواد مشابهة
HREM analysis of Sigma 3 {112} boundaries in gold bicrystal films
حسب: Hetherington, C, وآخرون
منشور في: (2001)
PLASTIC-DEFORMATION OF SI AND GE BICRYSTALS
حسب: George, A, وآخرون
منشور في: (1989)
Grain boundary fracture and plasticity in Sigma=25 bicrystals of silicon
حسب: Jacques, A, وآخرون
منشور في: (1996)
Intergranular fracture, grain-boundary structure, and dislocation-density interactions in FCC bicrystals
حسب: Muh-Jang Chen, وآخرون
منشور في: (2024-09-01)
Grain boundary inclination dependence of GN dislocation patterns and density in bicrystal model
حسب: Yoshiki KAWANO, وآخرون
منشور في: (2015-03-01)