Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Strain tensor mapping at the n...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Wilkinson, A
,
Meaden, G
,
Dingley, D
Ձևաչափ:
Journal article
Լեզու:
English
Հրապարակվել է:
2006
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նկարագրություն
Ամփոփում:
Նմանատիպ նյութեր
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)
Strain mapping using electron backscatter diffraction
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
: Dingley, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)