$Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction$

Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D
Ձևաչափ:	Journal article
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	2006

Նմանատիպ նյութեր

Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
‌: Dingley, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Strain measurement using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1998)

Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1996)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2011)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

QUANTITATIVE DEFORMATION STUDIES USING ELECTRON BACK SCATTER PATTERNS
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)

Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1999)

Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

High resolution electron back-scatter diffraction analysis of thermally and mechanically induced strains near carbide inclusions in a superalloy
‌: Karamched, P, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

A new method for determining small misorientations from electron back scatter diffraction patterns
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2001)

Nanoscale diffractive probing of strain dynamics in ultrafast transmission electron microscopy
‌: Armin Feist, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-01-01)

Disentangling multiple scattering with deep learning: application to strain mapping from electron diffraction patterns
‌: Joydeep Munshi, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-12-01)

Probing local strain fields using electron diffraction in the scanning electron microscope
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1997)

Mapping the full lattice strain tensor of a single dislocation by high angular resolution transmission Kikuchi diffraction (HR-TKD)
‌: Yu, H, և այլն
Հրապարակվել է: (2019)

Electron aspirator using electron–electron scattering in nanoscale silicon
‌: Himma Firdaus, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-12-01)

Assessment of Deformation Twinning in Cold Rolled Austenitic Stainless Steels with Electron Back Scatter Diffraction
‌: I. I. Ahmed, և այլն
Հրապարակվել է: (2014-06-01)

Assessment of Deformation Twinning in Cold Rolled Austenitic Stainless Steels with Electron Back Scatter Diffraction
‌: I. I. Ahmed, և այլն
Հրապարակվել է: (2014-06-01)

Crystal characteristics of fibrous calcite veins based on Electron Back Scattered Diffraction (EBSD)
‌: Lanquan ZHAO, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-03-01)

In situ Bragg coherent x-ray diffraction imaging of nanoscale strain evolution
‌: Yang, D
Հրապարակվել է: (2022)

Scanning electron diffraction reveals the molecular ordering of polysaccharides at the nanoscale
‌: Nero Mathias, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-01-01)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1997)

Mapping nanoscale topographic features in thick tissues with speckle diffraction tomography
‌: Kang, Sungsam, և այլն
Հրապարակվել է: (2024)

Mapping nanoscale topographic features in thick tissues with speckle diffraction tomography
‌: Sungsam Kang, և այլն
Հրապարակվել է: (2023-08-01)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

Orientational mapping of minerals in Pierre shale using X-ray diffraction tensor tomography
‌: Fredrik K. Mürer, և այլն
Հրապարակվել է: (2021-09-01)

Elastic and diffractive scattering at the LHC
‌: V.A. Khoze, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-09-01)

Imaging shape and strain in nanoscale engineered semiconductors for photonics by coherent x-ray diffraction
‌: Felisa Berenguer, և այլն
Հրապարակվել է: (2020-04-01)

Diffractive deeply inelastic scattering in future electron-ion colliders
‌: D. Bendova, և այլն
Հրապարակվել է: (2021-03-01)

Quantitative characterization of Zr60700 alloy plate rolling in different directions based on electron back-scatter diffraction
‌: Jin Zhang, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-05-01)

Nanoscale imaging of the full strain tensor of specific dislocations extracted from a bulk sample
‌: Hofmann, F, և այլն
Հրապարակվել է: (2020)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)