Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
المؤلفون الرئيسيون: | Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D |
---|---|
التنسيق: | Journal article |
اللغة: | English |
منشور في: |
2006
|
مواد مشابهة
-
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2009) -
Strain mapping using electron backscatter diffraction
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2009) -
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
حسب: Dingley, D, وآخرون
منشور في: (2010) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2006) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2013)