Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Hlavní autoři: | Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D |
---|---|
Médium: | Journal article |
Jazyk: | English |
Vydáno: |
2006
|
Podobné jednotky
-
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (2009) -
Strain mapping using electron backscatter diffraction
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (2009) -
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
Autor: Dingley, D, a další
Vydáno: (2010) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (2006) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (2013)