Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D
Μορφή: Journal article
Γλώσσα:English
Έκδοση: 2006

Παρόμοια τεκμήρια