Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Main Authors: | Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D |
---|---|
פורמט: | Journal article |
שפה: | English |
יצא לאור: |
2006
|
פריטים דומים
-
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2009) -
Strain mapping using electron backscatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2009) -
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
מאת: Dingley, D, et al.
יצא לאור: (2010) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2006) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2013)