Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Үндсэн зохиолчид: | Wilkinson, A, Meaden, G, Dingley, D |
---|---|
Формат: | Journal article |
Хэл сонгох: | English |
Хэвлэсэн: |
2006
|
Ижил төстэй зүйлс
Ижил төстэй зүйлс
-
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
-н: Wilkinson, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (2009) -
Strain mapping using electron backscatter diffraction
-н: Wilkinson, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (2009) -
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
-н: Dingley, D, зэрэг
Хэвлэсэн: (2010) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
-н: Wilkinson, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (2006) -
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
-н: Wilkinson, A, зэрэг
Хэвлэсэн: (2013)