Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Strain tensor mapping at the n...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Wilkinson, A
,
Meaden, G
,
Dingley, D
Format:
Journal article
Sprog:
English
Udgivet:
2006
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (2009)
Strain mapping using electron backscatter diffraction
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (2009)
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
af: Dingley, D, et al.
Udgivet: (2010)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (2006)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (2013)