Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
Strain tensor mapping at the n...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Wilkinson, A
,
Meaden, G
,
Dingley, D
Format:
Journal article
Jezik:
English
Izdano:
2006
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (2009)
Strain mapping using electron backscatter diffraction
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (2009)
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
od: Dingley, D, i dr.
Izdano: (2010)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (2006)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (2013)