Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction

Схожі ресурси

• Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
  за авторством: Wilkinson, A, та інші
  Опубліковано: (2009)
• Strain mapping using electron backscatter diffraction
  за авторством: Wilkinson, A, та інші
  Опубліковано: (2009)
• Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
  за авторством: Dingley, D, та інші
  Опубліковано: (2010)
• High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
  за авторством: Wilkinson, A, та інші
  Опубліковано: (2006)
• High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
  за авторством: Wilkinson, A, та інші
  Опубліковано: (2013)