Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Strain tensor mapping at the n...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Wilkinson, A
,
Meaden, G
,
Dingley, D
Định dạng:
Journal article
Ngôn ngữ:
English
Được phát hành:
2006
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2009)
Strain mapping using electron backscatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2009)
Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
Bằng: Dingley, D, et al.
Được phát hành: (2010)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2006)
High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2013)