Britton, T., Maurice, C., Fortunier, R., Driver, J., Day, A., Meaden, G., . . . Wilkinson, A. (2010). Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Britton, T., C. Maurice, R. Fortunier, J. Driver, A. Day, G. Meaden, D. Dingley, K. Mingard, i A. Wilkinson. Factors Affecting the Accuracy of High Resolution Electron Backscatter Diffraction When Using Simulated Patterns. 2010.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 9)Britton, T., et al. Factors Affecting the Accuracy of High Resolution Electron Backscatter Diffraction When Using Simulated Patterns. 2010.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..