Britton, T., Maurice, C., Fortunier, R., Driver, J., Day, A., Meaden, G., . . . Wilkinson, A. (2010). Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Britton, T., C. Maurice, R. Fortunier, J. Driver, A. Day, G. Meaden, D. Dingley, K. Mingard, và A. Wilkinson. Factors Affecting the Accuracy of High Resolution Electron Backscatter Diffraction When Using Simulated Patterns. 2010.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Britton, T., et al. Factors Affecting the Accuracy of High Resolution Electron Backscatter Diffraction When Using Simulated Patterns. 2010.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.