Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
GETTERING OF COPPER IN SILICON...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
Показати інші версії (1)
Бібліографічні деталі
Автори:
Decoteau, M
,
Wilshaw, P
,
Falster, R
Формат:
Conference item
Опубліковано:
1991
Примірники
Опис
Інші версії (1)
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
GETTERING OF COPPER IN SILICON - PRECIPITATION AT EXTENDED SURFACE-DEFECTS
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1991)
GETTERING OF COPPER AND IRON TO EXTENDED SURFACE-DEFECTS IN SILICON
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1992)
PRECIPITATION OF IRON IN SILICON - GETTERING TO EXTENDED SURFACE DEFECT SITES
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1991)
GETTERING OF COPPER TO OXIDATION INDUCED STACKING-FAULTS IN SILICON
за авторством: Decoteau, M, та інші
Опубліковано: (1990)
GETTERING IN SILICON
за авторством: Falster, R
Опубліковано: (1989)