Sun, Y., Chockler, H., Huang, X., & Kroening, D. (2020). Explaining image classifiers using statistical fault localization. Springer.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Sun, Y., H. Chockler, X. Huang, và D. Kroening. Explaining Image Classifiers Using Statistical Fault Localization. Springer, 2020.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Sun, Y., et al. Explaining Image Classifiers Using Statistical Fault Localization. Springer, 2020.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.