Probe integrated scattering cross sections in the analysis of atomic resolution HAADF STEM images.

Probe integrated scattering cross sections in the analysis of atomic resolution HAADF STEM images.

The physical basis for using a probe-position integrated cross section (PICS) for a single column of atoms as an effective way to compare simulation and experiment in high-angle annular dark-field (HAADF) scanning transmission electron microscopy (STEM) is described, and the use of PICS in order to...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	E, H, Macarthur, K, Pennycook, T, Okunishi, E, D'Alfonso, A, Lugg, N, Allen, L, Nellist, P
التنسيق:	Journal article
اللغة:	English
منشور في:	2013

مواد مشابهة

Quantitative techniques for aberration corrected HAADF STEM of nano-materials
حسب: E, H, وآخرون
منشور في: (2012)

HAADF-STEM imaging with sub-angstrom probes: a full Bloch wave analysis.
حسب: Peng, Y, وآخرون
منشور في: (2004)

Structural quantification of nanoparticles by HAADF STEM
حسب: MacArthur, K, وآخرون
منشور في: (2014)

Testing the accuracy of the two-dimensional object model in HAADF STEM.
حسب: Jones, L, وآخرون
منشور في: (2014)

Direct structure determination by atomic-resolution incoherent STEM imaging
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1997)

Determination of atomic structure at surfaces and interfaces by high-resolution stem
حسب: Pennycook, S, وآخرون
منشور في: (1997)

Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples
حسب: Findlay, S, وآخرون
منشور في: (2008)

Atomic resolution Z-contrast imaging of ultradispersed catalysts
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1997)

Subangstrom resolution imaging using annular dark-field STEM
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1999)

Making the link between ADF and 4D STEM: Resolution, transfer and coherence
حسب: Nellist, PD, وآخرون
منشور في: (2024)

EELS in the STEM: Determination of materials properties on the atomic scale
حسب: Browning, N, وآخرون
منشور في: (1997)

Direct observations of atomic structures of defects in GaN by high resolution Z-contrast stem
حسب: Xin, Y, وآخرون
منشور في: (1998)

ATOMIC RESOLUTION OF SURFACES IN THE ATOM PROBE
حسب: Smith, G
منشور في: (1981)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part 1: Experimental demonstration at atomic resolution.
حسب: Pennycook, T, وآخرون
منشور في: (2014)

High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
حسب: Pennycook, TJ, وآخرون
منشور في: (2018)

Deterministic electron ptychography at atomic resolution
حسب: D'Alfonso, A, وآخرون
منشور في: (2014)

Spatial resolution in atom probe tomography.
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2010)

Incoherent imaging using dynamically scattered coherent electrons
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1999)

Direct imaging of the atomic configuration of ultradispersed catalysts
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1996)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
حسب: Gault, B, وآخرون
منشور في: (2009)

Atomic resolution HOLZ-STEM imaging of atom position modulation in oxide heterostructures
حسب: Nord, M, وآخرون
منشور في: (2021)

Subangstrom resolution by underfocused incoherent transmission electron microscopy
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1998)

Quantitative sub-angstrom imaging through ADF STEM
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1998)

ELECTRON MICROSCOPY Atomic resolution comes into phase
حسب: Nellist, P
منشور في: (2012)

Direct observation of depth-dependent atomic displacements associated with dislocations in gallium nitride.
حسب: Lozano, J, وآخرون
منشور في: (2014)

Accurate structure determination from image reconstruction in ADF STEM
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1998)

Optimising multi-frame ADF-STEM for high-precision atomic-resolution strain mapping
حسب: Jones, L, وآخرون
منشور في: (2017)

Relativistic EELS scattering cross-sections for microanalysis based on Dirac solutions
حسب: Zhang, Z, وآخرون
منشور في: (2024)

Thickness dependence of scattering cross-sections in quantitative scanning transmission electron microscopy
حسب: Martinez, G, وآخرون
منشور في: (2018)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
حسب: Sijbrandij, S, وآخرون
منشور في: (1996)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part I: elastic scattering.
حسب: Cosgriff, E, وآخرون
منشور في: (2008)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopt, Part I: elastic scattering
حسب: Cosgriff, E, وآخرون
منشور في: (2008)

Observation of depth-dependent atomic displacements related to dislocations in GaN by optical sectioning in the STEM
حسب: Lozano, J, وآخرون
منشور في: (2014)

Rapid estimation of catalyst nanoparticle morphology and atomic-coordination by high-resolution Z-contrast electron microscopy.
حسب: Jones, L, وآخرون
منشور في: (2014)

On the origin of transverse incoherence in Z-contrast STEM.
حسب: Rafferty, B, وآخرون
منشور في: (2001)

Fast generation of calculated ADF-EDX scattering cross-sections under channelling conditions
حسب: Zhang, Z, وآخرون
منشور في: (2022)

Depth sectioning using electron energy loss spectroscopy
حسب: D'Alfonso, A, وآخرون
منشور في: (2008)

A Bloch wave analysis of optical sectioning in aberration-corrected STEM.
حسب: Cosgriff, E, وآخرون
منشور في: (2007)

IMAGE-RESOLUTION IMPROVEMENT USING COHERENT MICRODIFFRACTION IN STEM
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (1993)

Numerical modelling of mass resolution in a scanning atom probe.
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2001)