Dinelli, F., Biswas, S., Briggs, G., & Kolosov, O. (2000). Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy.
Citace podle Chicago (17th ed.)Dinelli, F., S. Biswas, G. Briggs, a O. Kolosov. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
Citace podle MLA (9th ed.)Dinelli, F., et al. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..