Dinelli, F., Biswas, S., Briggs, G., & Kolosov, O. (2000). Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Dinelli, F., S. Biswas, G. Briggs, e O. Kolosov. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
Citação MLA (9ª ed.)Dinelli, F., et al. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
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