Dinelli, F., Biswas, S., Briggs, G., & Kolosov, O. (2000). Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy.
Chicago-referens (17:e uppl.)Dinelli, F., S. Biswas, G. Briggs, och O. Kolosov. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
MLA-referens (9:e uppl.)Dinelli, F., et al. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.