Dinelli, F., Biswas, S., Briggs, G., & Kolosov, O. (2000). Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Dinelli, F., S. Biswas, G. Briggs, та O. Kolosov. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Dinelli, F., et al. Measurements of Stiff-material Compliance on the Nanoscale Using Ultrasonic Force Microscopy. 2000.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.