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Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
書目詳細資料
Main Authors:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
格式:
Journal article
出版:
2000
持有資料
實物特徵
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實物特徵
總結:
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