Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Những tác giả chính: | Dinelli, F, Biswas, S, Briggs, G, Kolosov, O |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Được phát hành: |
2000
|
Những quyển sách tương tự
-
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Bằng: Dinelli, F, et al.
Được phát hành: (2000) -
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
Bằng: Kolosov, O, et al.
Được phát hành: (1996) -
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
Bằng: Huey, B, et al.
Được phát hành: (2001) -
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
Bằng: Dinelli, F, et al.
Được phát hành: (1999) -
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
Bằng: Dinelli, F, et al.
Được phát hành: (1999)