Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Measurements of stiff-material...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
2000
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
nork: Dinelli, F, et al.
Argitaratua: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
nork: Kolosov, O, et al.
Argitaratua: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
nork: Huey, B, et al.
Argitaratua: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
nork: Dinelli, F, et al.
Argitaratua: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
nork: Dinelli, F, et al.
Argitaratua: (1999)