Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Measurements of stiff-material...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Aineistotyyppi:
Journal article
Julkaistu:
2000
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Tekijä: Dinelli, F, et al.
Julkaistu: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
Tekijä: Kolosov, O, et al.
Julkaistu: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
Tekijä: Huey, B, et al.
Julkaistu: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
Tekijä: Dinelli, F, et al.
Julkaistu: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
Tekijä: Dinelli, F, et al.
Julkaistu: (1999)