Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
Measurements of stiff-material...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Format:
Journal article
Izdano:
2000
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
od: Dinelli, F, i dr.
Izdano: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
od: Kolosov, O, i dr.
Izdano: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
od: Huey, B, i dr.
Izdano: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
od: Dinelli, F, i dr.
Izdano: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
od: Dinelli, F, i dr.
Izdano: (1999)