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Measurements of stiff-material...
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Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Detalhes bibliográficos
Principais autores:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Formato:
Journal article
Publicado em:
2000
Itens
Descrição
Registros relacionados
Registro fonte
Registros relacionados
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
por: Dinelli, F, et al.
Publicado em: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
por: Kolosov, O, et al.
Publicado em: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
por: Huey, B, et al.
Publicado em: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
por: Dinelli, F, et al.
Publicado em: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
por: Dinelli, F, et al.
Publicado em: (1999)