Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Measurements of stiff-material...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Measurements of stiff-material compliance on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
Библиографические подробности
Главные авторы:
Dinelli, F
,
Biswas, S
,
Briggs, G
,
Kolosov, O
Формат:
Journal article
Опубликовано:
2000
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Mapping surface elastic properties of stiff and compliant materials on the nanoscale using ultrasonic force microscopy
по: Dinelli, F, и др.
Опубликовано: (2000)
Nanoscale imaging of mechanical properties by ultrasonic force microscopy (UFM)
по: Kolosov, O, и др.
Опубликовано: (1996)
Characterisation of the nanometer-scale mechanical compliance of semiconductors by Ultrasonic Force Microscopy
по: Huey, B, и др.
Опубликовано: (2001)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
по: Dinelli, F, и др.
Опубликовано: (1999)
Elastic mapping of heterogeneous nanostructures with ultrasonic force microscopy (UFM)
по: Dinelli, F, и др.
Опубликовано: (1999)