Hao, X., Antonello, J., Allgeyer, E., Bewersdorf, J., & Booth, M. (2017). Aberrations in 4Pi microscopy. Optical Society.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Hao, X., J. Antonello, E. Allgeyer, J. Bewersdorf, و M. Booth. Aberrations in 4Pi Microscopy. Optical Society, 2017.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Hao, X., et al. Aberrations in 4Pi Microscopy. Optical Society, 2017.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.