A guide on FIB preparation of samples containing stress corrosion crack tips for TEM and atom-probe analysis
The preparation of samples containing stress corrosion crack tips for 3D atom-probe tomography and transmission electron microscopy is of ultimate importance for understanding the mechanisms controlling crack propagation. In this paper, it will be shown that a focused ion beam machine equipped with...
Ամբողջական նկարագրություն
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: |
Lozano-Perez, S |
Ձևաչափ: | Journal article
|
Հրապարակվել է: |
2008
|