A guide on FIB preparation of samples containing stress corrosion crack tips for TEM and atom-probe analysis

A guide on FIB preparation of samples containing stress corrosion crack tips for TEM and atom-probe analysis

Hiển thị phiên bản (1) khác

The preparation of samples containing stress corrosion crack tips for 3D atom-probe tomography and transmission electron microscopy is of ultimate importance for understanding the mechanisms controlling crack propagation. In this paper, it will be shown that a focused ion beam machine equipped with...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính:	Lozano-Perez, S
Định dạng:	Journal article
Được phát hành:	2008

Những quyển sách tương tự

A guide on FIB preparation of samples containing stress corrosion crack tips for TEM and atom-probe analysis.
Bằng: Lozano-Perez, S
Được phát hành: (2008)

Preparation of TEM specimens containing stress corrosion cracks in austenitic alloys using FIB
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2001)

TEM crack tip investigations of SCC
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2002)

Atom probe tomography of stress corrosion crack tips in SUS316 stainless steels
Bằng: Meisnar, M, et al.
Được phát hành: (2015)

TEM characterization of stress corrosion cracks in 304SS
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2004)

TEM characterization of stress corrosion cracks in 304SS
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2004)

Cryogenic large volume 3D and TEM sample preparation with multiple ion species plasma FIB
Bằng: Wu Min, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

FIB and Wedge Polishing Sample Preparation for TEM Analysis of Sol-Gel Derived Perovskite Thin Films
Bằng: Jorge Sanz-Mateo, et al.
Được phát hành: (2022-07-01)

TEM investigations of intergranular stress corrosion cracking in austenitic alloys in PWR environmental conditions
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2003)

TEM investigations of intergranular stress corrosion cracking in austenitic alloys in PWR environmental conditions
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2003)

3D ATOM-PROBE CHARACTERIZATION OF STRESS AND COLD-WORK IN STRESS CORROSION CRACKING OF 304 STAINLESS STEEL
Bằng: Kruska, K, et al.
Được phát hành: (2011)

3D ATOM-PROBE CHARACTERIZATION OF STRESS AND COLD-WORK IN STRESS CORROSION CRACKING OF 304 STAINLESS STEEL
Bằng: Kruska, K, et al.
Được phát hành: (2011)

FIB-SEM/microtoming prepared Cross Section of a Stone Wool Fiber enabling (S)TEM investigation
Bằng: Rasmussen Krestine Hofstedt, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Single-Wedge Lift-Out for Atom Probe Tomography Al/Ni Multilayers Specimen Preparation Based on Dual-Beam-FIB
Bằng: Yi Qiao, et al.
Được phát hành: (2021-12-01)

Subsurface damage analysis by TEM and 3D FIB crack mapping in alumina and alumina/5vol.%SiC nanocomposites
Bằng: Wu, H, et al.
Được phát hành: (2003)

Combination of focused ion beam (FIB) and microtome by ultrathin slice preparation for transmission electron microscopy (TEM) observation
Bằng: Yuchen Xu, et al.
Được phát hành: (2018-09-01)

3D visualisation of crack distributions in oxidised zirconium alloys by FIB-slicing
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (2012)

A study on the diffusion-induced grain boundary migration ahead of stress corrosion cracking crack tips through advanced characterization
Bằng: Shen, Z, et al.
Được phát hành: (2021)

The overview of the impacts of electron radiation on semiconductor failure analysis by SEM, FIB and TEM
Bằng: Liu, Binghai, et al.
Được phát hành: (2020)

The universal sample holders of microanalytical instruments of FIB, TEM, NanoSIMS, and STXM-NEXAFS for the coordinated analysis of extraterrestrial materials
Bằng: Motoo Ito, et al.
Được phát hành: (2020-09-01)

AN FIM-ATOM PROBE AND TEM STUDY OF ALNICO PERMANENT MAGNETIC MATERIAL
Bằng: Cowley, S, et al.
Được phát hành: (1986)

Preparation of TEM samples of ferritic alloys.
Bằng: Yao, Z, et al.
Được phát hành: (2008)

XRD Analysis in Front of a Corrosion Crack Tip
Bằng: C. GHEORGHIEŞ, et al.
Được phát hành: (2008-05-01)

Optimization of the In Situ Biasing FIB Sample Preparation for Hafnia-Based Ferroelectric Capacitor
Bằng: Qilan Zhong, et al.
Được phát hành: (2021-11-01)

Novel characterization of stress corrosion cracks
Bằng: Lozano-Perez, S
Được phát hành: (2008)

Novel characterization of stress corrosion cracks
Bằng: Lozano-Perez, S
Được phát hành: (2008)

Enabling focused ion beam sample preparation for application in reverse tip sample scanning probe microscopy
Bằng: P. Lagrain, et al.
Được phát hành: (2024-06-01)

Nitrogen adsorption data, FIB-SEM tomography and TEM micrographs of neutron-irradiated superfine grain graphite
Bằng: José D. Arregui-Mena, et al.
Được phát hành: (2018-12-01)

Uncertainty in Crack width Estimates According to Fib Model Code 2010
Bằng: Mlčoch Jan, et al.
Được phát hành: (2017-06-01)

Developing atom probe tomography of phyllosilicates in preparation for extra-terrestrial sample return
Bằng: Daly, L, et al.
Được phát hành: (2021)

Atom probe trajectory mapping using experimental tip shape measurements.
Bằng: Haley, D, et al.
Được phát hành: (2011)

Transplanting assembly of carbon-nanotube-tipped atomic force microscope probes
Bằng: Soohyung, Kim, et al.
Được phát hành: (2012)

Studies of probe tip materials by atomic force microscopy: a review
Bằng: Ke Xu, et al.
Được phát hành: (2022-11-01)

Enhancing sensitivity in atomic force microscopy for planar tip-on-chip probes
Bằng: H. Tunç Çiftçi, et al.
Được phát hành: (2022-05-01)

Understanding stress corrosion cracking with electron tomography
Bằng: Lozano-Perez, S, et al.
Được phát hành: (2008)

Novel combination of integrated FLM with cryo-FIB allows targeted cryo-ET sample preparation from challenging samples
Bằng: Smeets Marit, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Preparation of transmission electron microscopy cross-section specimens of crack tips using focused ion beam milling
Bằng: Huang, Y, et al.
Được phát hành: (2002)

Preparation of transmission electron microscopy cross-section specimens of crack tips using focused ion beam milling.
Bằng: Huang, Y, et al.
Được phát hành: (2002)

New strategies of TEM sample preparation for the mitigation of carbon contamination
Bằng: Menten Julia, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Improved conventional TEM sample preparation exploiting the birefringence of materials
Bằng: Brozyniak Aleksander, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)