Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM

This paper describes recent developments in the experimental methods of atom probe field ion microscopy, and in particular the means for the three-dimensional reconstruction of the atomic chemistry of solids. A selection of applications is presented, involving the study of grain boundary and interfa...

Bibliografiset tiedot
Päätekijät:	Smith, G, Cerezo, A, Godfrey, T, Seto, K, Warren, P
Aineistotyyppi:	Conference item
Julkaistu:	1998

Samankaltaisia teoksia

A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
Tekijä: Setna, R, et al.
Julkaistu: (1989)

THE FIM100 - PERFORMANCE OF A COMMERCIAL ATOM PROBE SYSTEM
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1984)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
Tekijä: Bagot, P, et al.
Julkaistu: (2007)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1999)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1998)

FIM AND ATOM-PROBE STUDIES OF DEFECTS IN DOPED TUNGSTEN LAMP WIRES
Tekijä: Beaven, P, et al.
Julkaistu: (1979)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
Tekijä: Smith, G, et al.
Julkaistu: (1997)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2001)

A FIM/ATOM-PROBE STUDY OF PHASE-TRANSFORMATIONS IN MOLYBDENUM STEELS
Tekijä: Stark, I, et al.
Julkaistu: (1987)

PROGRESS WITH FIM AND ATOM-PROBE INVESTIGATIONS OF NICKEL-BASED SUPER-ALLOYS
Tekijä: Delargy, K, et al.
Julkaistu: (1979)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
Tekijä: Hyde, J, et al.
Julkaistu: (1994)

AN FIM-ATOM PROBE AND TEM STUDY OF ALNICO PERMANENT MAGNETIC MATERIAL
Tekijä: Cowley, S, et al.
Julkaistu: (1986)

Grain boundary segregation in boron added interstitial free steels studied by 3-dimensional atom probe
Tekijä: Seto, K, et al.
Julkaistu: (1999)

AN ELECTRONIC AND COMPUTER-SYSTEM FOR AN AUTOMATED ATOM PROBE
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1984)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
Tekijä: Sijbrandij, S, et al.
Julkaistu: (1996)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1994)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1988)

An atom probe study of the distribution of rhenium in a nickel-based superalloy
Tekijä: Warren, P, et al.
Julkaistu: (1998)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1994)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1989)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
Tekijä: Petfordlong, A, et al.
Julkaistu: (1992)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1992)

Design of a scanning atom probe with improved mass resolution
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2000)

An atom probe study of fine scale structure in AlMgSi(Cu) alloys
Tekijä: Vaumousse, D, et al.
Julkaistu: (2002)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Smith, G, et al.
Julkaistu: (1994)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1991)

3-D atom probe studies of some nanostructured materials
Tekijä: Warren, P, et al.
Julkaistu: (2000)

Atomic scale study of precipitate/matrix interfaces in a metallic alloy
Tekijä: Rozdilsky, I, et al.
Julkaistu: (1998)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Tekijä: Jenkins, BM, et al.
Julkaistu: (2020)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1985)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1996)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
Tekijä: Hetherington, M, et al.
Julkaistu: (1986)

Atomic scale characterization of buried In(x)Ga(1-x)As quantum dots using pulsed laser atom probe tomography
Tekijä: Mueller, M, et al.
Julkaistu: (2008)

PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
Tekijä: Miller, M, et al.
Julkaistu: (1979)

IMPROVEMENTS IN THE TRANSMISSION OF VOLTAGE EVAPORATION PULSES IN THE ATOM-PROBE
Tekijä: Sijbrandij, S, et al.
Julkaistu: (1995)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Tekijä: Larson, D, et al.
Julkaistu: (1999)

Optimisation of a scanning atom probe with improved mass resolution using post deceleration.
Tekijä: Grennan-Heaven, N, et al.
Julkaistu: (2007)

ATOMIC RESOLUTION OF SURFACES IN THE ATOM PROBE
Tekijä: Smith, G
Julkaistu: (1981)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1989)