Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM

This paper describes recent developments in the experimental methods of atom probe field ion microscopy, and in particular the means for the three-dimensional reconstruction of the atomic chemistry of solids. A selection of applications is presented, involving the study of grain boundary and interfa...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Smith, G, Cerezo, A, Godfrey, T, Seto, K, Warren, P
Формат:	Conference item
Опубліковано:	1998

Схожі ресурси

A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
за авторством: Setna, R, та інші
Опубліковано: (1989)

THE FIM100 - PERFORMANCE OF A COMMERCIAL ATOM PROBE SYSTEM
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1984)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
за авторством: Bagot, P, та інші
Опубліковано: (2007)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1999)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1998)

FIM AND ATOM-PROBE STUDIES OF DEFECTS IN DOPED TUNGSTEN LAMP WIRES
за авторством: Beaven, P, та інші
Опубліковано: (1979)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1997)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2001)

A FIM/ATOM-PROBE STUDY OF PHASE-TRANSFORMATIONS IN MOLYBDENUM STEELS
за авторством: Stark, I, та інші
Опубліковано: (1987)

PROGRESS WITH FIM AND ATOM-PROBE INVESTIGATIONS OF NICKEL-BASED SUPER-ALLOYS
за авторством: Delargy, K, та інші
Опубліковано: (1979)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
за авторством: Hyde, J, та інші
Опубліковано: (1994)

AN FIM-ATOM PROBE AND TEM STUDY OF ALNICO PERMANENT MAGNETIC MATERIAL
за авторством: Cowley, S, та інші
Опубліковано: (1986)

Grain boundary segregation in boron added interstitial free steels studied by 3-dimensional atom probe
за авторством: Seto, K, та інші
Опубліковано: (1999)

AN ELECTRONIC AND COMPUTER-SYSTEM FOR AN AUTOMATED ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1984)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
за авторством: Sijbrandij, S, та інші
Опубліковано: (1996)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1988)

An atom probe study of the distribution of rhenium in a nickel-based superalloy
за авторством: Warren, P, та інші
Опубліковано: (1998)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
за авторством: Petfordlong, A, та інші
Опубліковано: (1992)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1992)

Design of a scanning atom probe with improved mass resolution
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2000)

An atom probe study of fine scale structure in AlMgSi(Cu) alloys
за авторством: Vaumousse, D, та інші
Опубліковано: (2002)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1994)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1991)

3-D atom probe studies of some nanostructured materials
за авторством: Warren, P, та інші
Опубліковано: (2000)

Atomic scale study of precipitate/matrix interfaces in a metallic alloy
за авторством: Rozdilsky, I, та інші
Опубліковано: (1998)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
за авторством: Jenkins, BM, та інші
Опубліковано: (2020)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1985)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1996)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
за авторством: Hetherington, M, та інші
Опубліковано: (1986)

Atomic scale characterization of buried In(x)Ga(1-x)As quantum dots using pulsed laser atom probe tomography
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2008)

PERFORMANCE AND APPLICATIONS OF AN IMAGING ATOM-PROBE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1979)

IMPROVEMENTS IN THE TRANSMISSION OF VOLTAGE EVAPORATION PULSES IN THE ATOM-PROBE
за авторством: Sijbrandij, S, та інші
Опубліковано: (1995)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1999)

Optimisation of a scanning atom probe with improved mass resolution using post deceleration.
за авторством: Grennan-Heaven, N, та інші
Опубліковано: (2007)

ATOMIC RESOLUTION OF SURFACES IN THE ATOM PROBE
за авторством: Smith, G
Опубліковано: (1981)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)