APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES

APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES

The morphology and microchemistry of interfaces in GaInAs/InP quantum well structures have been studied with extremely high resolution by the new technique of position sensitive atom probe microanalysis. This letter presents some preliminary results demonstrating the power of the technique in determ...

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	Liddle, J, Norman, A, Cerezo, A, Grovenor, C
Médium:	Journal article
Jazyk:	English
Vydáno:	1989

Podobné jednotky

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS
Autor: Liddle, J, a další
Vydáno: (1989)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
Autor: Liddle, J, a další
Vydáno: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1989)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
Autor: Liddle, J, a další
Vydáno: (1988)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1992)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1987)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1990)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1988)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Hetherington, M, a další
Vydáno: (1992)

3-DIMENSIONAL VISUALIZATION OF SEMICONDUCTOR MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1991)

3-DIMENSIONAL VISUALIZATION OF SEMICONDUCTOR MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1991)

Three dimensional visualization of semiconductor multi-quantum well interfaces
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1991)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1991)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Autor: Smith, G, a další
Vydáno: (1994)

3D atom probe analysis of quantum well and quantum dot materials
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (2007)

1990 BURCH,C.R. PRIZE - JOINT AWARD - THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Autor: Cerezo, A
Vydáno: (1991)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
Autor: Hyde, J, a další
Vydáno: (1994)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1990)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
Autor: Smith, G, a další
Vydáno: (1998)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1986)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
Autor: Petfordlong, A, a další
Vydáno: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1983)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1983)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1986)

ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1989)

ATOMIC SCALE CHEMISTRY OF CO- AND NI-SI(100) INTERFACES
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1991)

ATOMIC SCALE CHEMISTRY OF CO- AND NI-SI(100) INTERFACES
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1991)

ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1991)

Otolith microchemistry and diadromy in Patagonian river fishes
Autor: Dominique Alò, a další
Vydáno: (2019-01-01)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF OMEGA AND THETA' PRECIPITATES IN AL-CU-MG-AG ALLOYS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE STUDY OF THE DECOMPOSITION OF A CU-2.6AT-PERCENT-CO ALLOY
Autor: Setna, R, a další
Vydáno: (1993)