APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES

APPLICATION OF POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE STUDY OF THE MICROCHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF QUANTUM WELL INTERFACES

The morphology and microchemistry of interfaces in GaInAs/InP quantum well structures have been studied with extremely high resolution by the new technique of position sensitive atom probe microanalysis. This letter presents some preliminary results demonstrating the power of the technique in determ...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Liddle, J, Norman, A, Cerezo, A, Grovenor, C
פורמט:	Journal article
שפה:	English
יצא לאור:	1989

פריטים דומים

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS
מאת: Liddle, J, et al.
יצא לאור: (1989)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE TO THE ANALYSIS OF THE CHEMISTRY AND MORPHOLOGY OF MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
מאת: Liddle, J, et al.
יצא לאור: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
מאת: Liddle, J, et al.
יצא לאור: (1988)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1992)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1987)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
מאת: Mackenzie, R, et al.
יצא לאור: (1990)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1988)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
מאת: Hetherington, M, et al.
יצא לאור: (1992)

3-DIMENSIONAL VISUALIZATION OF SEMICONDUCTOR MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
מאת: Mackenzie, R, et al.
יצא לאור: (1991)

3-DIMENSIONAL VISUALIZATION OF SEMICONDUCTOR MULTI-QUANTUM-WELL INTERFACES
מאת: Mackenzie, R, et al.
יצא לאור: (1991)

Three dimensional visualization of semiconductor multi-quantum well interfaces
מאת: Mackenzie, R, et al.
יצא לאור: (1991)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1991)

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
מאת: Smith, G, et al.
יצא לאור: (1994)

3D atom probe analysis of quantum well and quantum dot materials
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2007)

1990 BURCH,C.R. PRIZE - JOINT AWARD - THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
מאת: Cerezo, A
יצא לאור: (1991)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
מאת: Hyde, J, et al.
יצא לאור: (1994)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1990)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
מאת: Smith, G, et al.
יצא לאור: (1998)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1986)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
מאת: Petfordlong, A, et al.
יצא לאור: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1983)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1983)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1986)

ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF LOW-TEMPERATURE OXIDES ON (100) SILICON AND GALLIUM-ARSENIDE SURFACES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1989)

ATOMIC SCALE CHEMISTRY OF CO- AND NI-SI(100) INTERFACES
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1991)

ATOMIC SCALE CHEMISTRY OF CO- AND NI-SI(100) INTERFACES
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1991)

ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
מאת: Mackenzie, R, et al.
יצא לאור: (1991)

Otolith microchemistry and diadromy in Patagonian river fishes
מאת: Dominique Alò, et al.
יצא לאור: (2019-01-01)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF OMEGA AND THETA' PRECIPITATES IN AL-CU-MG-AG ALLOYS
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE STUDY OF THE DECOMPOSITION OF A CU-2.6AT-PERCENT-CO ALLOY
מאת: Setna, R, et al.
יצא לאור: (1993)