Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Refinement of amorphous and po...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Refinement of amorphous and polycrystalline structures of thin disordered films using energy selected electron diffraction
Бібліографічні деталі
Автори:
Cockayne, D
,
McCulloch, D
,
McKenzie, DR
,
Goringe, C
,
McBride, W
Формат:
Conference item
Опубліковано:
1998
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Опис
Резюме:
Схожі ресурси
Characterization of Amorphous Materials by Electron Diffraction and Atomistic Modeling.
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (2000)
ELECTRON-DIFFRACTION ANALYSIS OF POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS THIN-FILMS
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (1988)
ELECTRON-DIFFRACTION ANALYSIS OF POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS THIN-FILMS
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (1988)
ELECTRON-DIFFRACTION ANALYSIS OF POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS THIN-FILMS
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (1988)
Electron diffraction studies of the structure of amorphous and polycrystalline materials
за авторством: Cockayne, D, та інші
Опубліковано: (1998)