ATOM PROBE ANALYSIS OF PRECIPITATES IN ALZNMG ALLOY 7018

ATOM PROBE ANALYSIS OF PRECIPITATES IN ALZNMG ALLOY 7018

Бібліографічні деталі
Автори:	Ortner, S, Grovenor, C
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	1988

Схожі ресурси

ATOM PROBE ANALYSIS OF G-P ZONES AND PRECIPITATE COMPOSITIONS IN ALZNMG ALLOYS
за авторством: Ortner, S, та інші
Опубліковано: (1987)

ON THE STRUCTURE AND COMPOSITION OF G-P ZONES IN HIGH-PURITY ALZNMG ALLOYS
за авторством: Ortner, S, та інші
Опубліковано: (1988)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF OMEGA AND THETA' PRECIPITATES IN AL-CU-MG-AG ALLOYS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1989)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
за авторством: Warren, P, та інші
Опубліковано: (1992)

ANALYSIS OF NANOMETER-SIZED PRECIPITATES USING ATOM PROBE TECHNIQUES
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1990)

Onset Frequency of Fatigue Effects in Pure Aluminum and 7075 (AlZnMg) and 2024 (AlCuMg) Alloys
за авторством: Jose I. Rojas, та інші
Опубліковано: (2016-03-01)

COMPARISON OF STEM AND ATOM-PROBE METHODS FOR CHEMICAL-ANALYSIS OF GRAIN-BOUNDARIES IN COMMERCIAL AL-ALLOYS
за авторством: Warren, P, та інші
Опубліковано: (1995)

Atom probe characterization of precipitation in an aged Cu-Ni-P alloy.
за авторством: Aruga, Y, та інші
Опубліковано: (2011)

Welding with coated electrodes E 6010 and E 7018 in AISI 1025 steel
за авторством: Dennis Reyes-Carcasés, та інші
Опубліковано: (2018-01-01)

Insight into effect of rust layer evolution on corrosion resistance of 55AlZnMg coating
за авторством: Guosheng Ma, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1982)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1986)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

Characterizing nanoscale precipitation in a titanium alloy by laser-assisted atom probe tomography
за авторством: Coakley, J, та інші
Опубліковано: (2018)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1987)

Precipitation in stretched Al-Cu-Mg alloys with reduced alloying content studied by DSC, TEM and atom probe
за авторством: Gao, N, та інші
Опубліковано: (2002)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1986)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
за авторством: Liddle, J, та інші
Опубліковано: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1983)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1985)

Study of early-stage precipitation in Al-Mg-Si(-Cu) alloys by 3D atom probe
за авторством: Zandbergen, MW
Опубліковано: (2008)

Atom probe microscopy investigation of Mg site occupancy within delta ' precipitates in an Al-Mg-Li alloy
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2012)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2011)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1983)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2012)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
за авторством: Mackenzie, R, та інші
Опубліковано: (1990)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

Characterization of Precipitation in Al-Li Alloy AA2195 by means of Atom Probe Tomography and Transmission Electron Microscopy
за авторством: Muna Khushaim, та інші
Опубліковано: (2015-01-01)

Carbide Precipitation in a Low Alloyed Steel during Aging Studied by Atom Probe Tomography and Thermodynamic Modeling
за авторством: Mattias Thuvander, та інші
Опубліковано: (2021-12-01)

Atom probe tomography of nanoscale microstructures within precipitate free zones in Al-Zn-Mg(-Ag) alloys
за авторством: Ogura, T, та інші
Опубліковано: (2010)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1992)

COMPOSITIONAL STUDIES OF OMEGA-PRECIPITATES AND O'-PRECIPITATES IN AN AL-CU-MG-AG ALLOY
за авторством: Shollock, B, та інші
Опубліковано: (1990)

Atom probe tomography of irradiated zirconium alloys
за авторством: Callow, A
Опубліковано: (2021)

Atom probe tomography analysis of the distribution of rhenium in nickel alloys
за авторством: Mottura, A, та інші
Опубліковано: (2010)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
за авторством: Liddle, J, та інші
Опубліковано: (1988)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS
за авторством: Liddle, J, та інші
Опубліковано: (1989)