ATOM PROBE ANALYSIS OF PRECIPITATES IN ALZNMG ALLOY 7018

ATOM PROBE ANALYSIS OF PRECIPITATES IN ALZNMG ALLOY 7018

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Ortner, S, Grovenor, C
Định dạng:	Journal article
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	1988

Những quyển sách tương tự

ATOM PROBE ANALYSIS OF G-P ZONES AND PRECIPITATE COMPOSITIONS IN ALZNMG ALLOYS
Bằng: Ortner, S, et al.
Được phát hành: (1987)

ON THE STRUCTURE AND COMPOSITION OF G-P ZONES IN HIGH-PURITY ALZNMG ALLOYS
Bằng: Ortner, S, et al.
Được phát hành: (1988)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE STUDIES OF THE COMPOSITION OF OMEGA AND THETA' PRECIPITATES IN AL-CU-MG-AG ALLOYS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1989)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
Bằng: Warren, P, et al.
Được phát hành: (1992)

ANALYSIS OF NANOMETER-SIZED PRECIPITATES USING ATOM PROBE TECHNIQUES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1990)

Onset Frequency of Fatigue Effects in Pure Aluminum and 7075 (AlZnMg) and 2024 (AlCuMg) Alloys
Bằng: Jose I. Rojas, et al.
Được phát hành: (2016-03-01)

COMPARISON OF STEM AND ATOM-PROBE METHODS FOR CHEMICAL-ANALYSIS OF GRAIN-BOUNDARIES IN COMMERCIAL AL-ALLOYS
Bằng: Warren, P, et al.
Được phát hành: (1995)

Atom probe characterization of precipitation in an aged Cu-Ni-P alloy.
Bằng: Aruga, Y, et al.
Được phát hành: (2011)

Welding with coated electrodes E 6010 and E 7018 in AISI 1025 steel
Bằng: Dennis Reyes-Carcasés, et al.
Được phát hành: (2018-01-01)

Insight into effect of rust layer evolution on corrosion resistance of 55AlZnMg coating
Bằng: Guosheng Ma, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1982)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1986)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

Characterizing nanoscale precipitation in a titanium alloy by laser-assisted atom probe tomography
Bằng: Coakley, J, et al.
Được phát hành: (2018)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1987)

Precipitation in stretched Al-Cu-Mg alloys with reduced alloying content studied by DSC, TEM and atom probe
Bằng: Gao, N, et al.
Được phát hành: (2002)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1986)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTI-QUANTUM-WELL STRUCTURES
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE ANALYSIS OF MULTIPLE QUANTUM-WELL STRUCTURES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1983)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1985)

Study of early-stage precipitation in Al-Mg-Si(-Cu) alloys by 3D atom probe
Bằng: Zandbergen, MW
Được phát hành: (2008)

Atom probe microscopy investigation of Mg site occupancy within delta ' precipitates in an Al-Mg-Li alloy
Bằng: Gault, B, et al.
Được phát hành: (2012)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2011)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1983)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Bằng: Mueller, M, et al.
Được phát hành: (2012)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Bằng: Mackenzie, R, et al.
Được phát hành: (1990)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

Characterization of Precipitation in Al-Li Alloy AA2195 by means of Atom Probe Tomography and Transmission Electron Microscopy
Bằng: Muna Khushaim, et al.
Được phát hành: (2015-01-01)

Carbide Precipitation in a Low Alloyed Steel during Aging Studied by Atom Probe Tomography and Thermodynamic Modeling
Bằng: Mattias Thuvander, et al.
Được phát hành: (2021-12-01)

Atom probe tomography of nanoscale microstructures within precipitate free zones in Al-Zn-Mg(-Ag) alloys
Bằng: Ogura, T, et al.
Được phát hành: (2010)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1992)

COMPOSITIONAL STUDIES OF OMEGA-PRECIPITATES AND O'-PRECIPITATES IN AN AL-CU-MG-AG ALLOY
Bằng: Shollock, B, et al.
Được phát hành: (1990)

Atom probe tomography of irradiated zirconium alloys
Bằng: Callow, A
Được phát hành: (2021)

Atom probe tomography analysis of the distribution of rhenium in nickel alloys
Bằng: Mottura, A, et al.
Được phát hành: (2010)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1988)

POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE AND STEM ANALYSIS OF THE MICROCHEMISTRY OF GAINAS/INP QUANTUM WELLS
Bằng: Liddle, J, et al.
Được phát hành: (1989)