Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
CHARACTERIZATION OF GRIDDED FI...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
CHARACTERIZATION OF GRIDDED FIELD EMITTERS
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Huang, M
,
Mackenzie, R
,
Godfrey, T
,
Smith, G
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
1994
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
nork: Huang, M, et al.
Argitaratua: (1994)
Anodisation of gridded silicon field emitter arrays
nork: Huang, M, et al.
Argitaratua: (1997)
Microfabrication and characterization of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
nork: Huq, SE, et al.
Argitaratua: (1998)
Characterization of porous silicon field emitter properties
nork: Boswell, E, et al.
Argitaratua: (1996)
Microfabrication and characterisation of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
nork: Huq, SE, et al.
Argitaratua: (1997)