Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
CHARACTERIZATION OF GRIDDED FI...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
CHARACTERIZATION OF GRIDDED FIELD EMITTERS
Бібліографічні деталі
Автори:
Huang, M
,
Mackenzie, R
,
Godfrey, T
,
Smith, G
Формат:
Journal article
Опубліковано:
1994
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
за авторством: Huang, M, та інші
Опубліковано: (1994)
Anodisation of gridded silicon field emitter arrays
за авторством: Huang, M, та інші
Опубліковано: (1997)
Microfabrication and characterization of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
за авторством: Huq, SE, та інші
Опубліковано: (1998)
Characterization of porous silicon field emitter properties
за авторством: Boswell, E, та інші
Опубліковано: (1996)
Microfabrication and characterisation of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
за авторством: Huq, SE, та інші
Опубліковано: (1997)