Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Imaging Secondary Ion Mass Spe...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
导出完成 —
Imaging Secondary Ion Mass Spectroscopy
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:
Moore, K
,
Schröder, M
,
Grovenor, C
Ձևաչափ:
Book section
Հրապարակվել է:
Wiley-VCH
2012
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նմանատիպ նյութեր
Development of a new bimodal imaging methodology: a combination of fluorescence microscopy and high-resolution secondary ion mass spectrometry.
: Lau, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)
Development of a new bimodal imaging methodology: A combination of fluorescence microscopy and high-resolution secondary ion mass spectrometry
: Lau, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)
High-resolution secondary ion mass spectrometry reveals the contrasting subcellular distribution of arsenic and silicon in rice roots.
: Moore, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)
Localisation of iron in wheat grain using high resolution secondary ion mass spectrometry
: Moore, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)
Localisation of iron in wheat grain using high resolution secondary ion mass spectrometry
: Moore, K, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)