Cryogenic rds(on) of a GaN power transistor at high currents
The dramatic reduction in the on-state resistance of Gallium Nitride (GaN) HEMTs at cryogenic temperatures can be exploited to reduce conduction losses in power converters. In this paper, we present a low-cost and easily implementable methodology for the characterisation of the on-state resistance o...
Հիմնական հեղինակներ: | Bruford, J, Rogers, DJ, Rodriguez, T |
---|---|
Ձևաչափ: | Conference item |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
IEEE
2023
|
Նմանատիպ նյութեր
-
GaN transistors for efficient power conversion /
: Lidow, Alex, author, և այլն
Հրապարակվել է: ([201) -
GaN Transistors for Efficient Power Conversion /
: Lidow, Alex, author, և այլն
Հրապարակվել է: (2020) -
Laser slice thinning of GaN-on-GaN high electron mobility transistors
: Atsushi Tanaka, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-05-01) -
Nanostructured GaN transistors
: Chowdhury, Nadim, և այլն
Հրապարակվել է: (2019) -
Current Collapse Phenomena Investigation in Automotive-Grade Power GaN Transistors
: Alfio Basile, և այլն
Հրապարակվել է: (2023-12-01)