Cryogenic rds(on) of a GaN power transistor at high currents
The dramatic reduction in the on-state resistance of Gallium Nitride (GaN) HEMTs at cryogenic temperatures can be exploited to reduce conduction losses in power converters. In this paper, we present a low-cost and easily implementable methodology for the characterisation of the on-state resistance o...
Những tác giả chính: | Bruford, J, Rogers, DJ, Rodriguez, T |
---|---|
Định dạng: | Conference item |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
IEEE
2023
|
Những quyển sách tương tự
-
GaN transistors for efficient power conversion /
Bằng: Lidow, Alex, author, et al.
Được phát hành: ([201) -
GaN Transistors for Efficient Power Conversion /
Bằng: Lidow, Alex, author, et al.
Được phát hành: (2020) -
Laser slice thinning of GaN-on-GaN high electron mobility transistors
Bằng: Atsushi Tanaka, et al.
Được phát hành: (2022-05-01) -
Nanostructured GaN transistors
Bằng: Chowdhury, Nadim, et al.
Được phát hành: (2019) -
Current Collapse Phenomena Investigation in Automotive-Grade Power GaN Transistors
Bằng: Alfio Basile, et al.
Được phát hành: (2023-12-01)