Cryogenic rds(on) of a GaN power transistor at high currents

The dramatic reduction in the on-state resistance of Gallium Nitride (GaN) HEMTs at cryogenic temperatures can be exploited to reduce conduction losses in power converters. In this paper, we present a low-cost and easily implementable methodology for the characterisation of the on-state resistance o...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Bruford, J, Rogers, DJ, Rodriguez, T
Định dạng: Conference item
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: IEEE 2023

Những quyển sách tương tự